2023-03-30 15:52 |
დეტალური ჩანაწერი - მსგავსი ჩანაწერები
|
2023-03-30 15:48 |
|
Assessing the Usefulness of Assurance Cases: an Experience with the CERN Large Hadron Collider
/ Rees, Chris (Critical Systems Labs) ; Delgado, Mateo (Critical Systems Labs) ; Lippelt, Rolf (Critical Systems Labs) ; Joyce, Jeff (Critical Systems Labs) ; Diemert, Simon (Critical Systems Labs) ; Menghi, Claudio (McMasters University) ; Viger, Torin (University of Toronto) ; Chechik, Marsha (University of Toronto) ; Uythoven, Jan (CERN) ; Zerlauth, Markus (CERN) et al.
Assurance cases are structured arguments designed to show that a system functions properly in its operational environment. [...]
CERN-ACC-2023-0002.
-
2023.
|
დეტალური ჩანაწერი - მსგავსი ჩანაწერები
|
2023-03-30 10:46 |
დეტალური ჩანაწერი - მსგავსი ჩანაწერები
|
2023-03-30 04:21 |
|
Fast kernel methods for Data Quality Monitoring as a goodness-of-fit test
/ Grosso, Gaia (Padua U. ; INFN, Padua ; CERN) ; Lai, Nicolò (Padua U.) ; Letizia, Marco (Genoa U. ; INFN, Genoa) ; Pazzini, Jacopo (Padua U. ; INFN, Padua) ; Rando, Marco (Genoa U.) ; Rosasco, Lorenzo (Genoa U. ; Italian Inst. Tech., Genoa ; MIT) ; Wulzer, Andrea (Barcelona, IFAE ; ICREA, Barcelona ; Barcelona, Autonoma U.) ; Zanetti, Marco (Padua U. ; INFN, Padua)
We here propose a machine learning approach for monitoring particle detectors in real-time. [...]
arXiv:2303.05413.
-
16 p.
Fulltext
|
დეტალური ჩანაწერი - მსგავსი ჩანაწერები
|
2023-03-30 00:06 |
დეტალური ჩანაწერი - მსგავსი ჩანაწერები
|
2023-03-29 23:42 |
დეტალური ჩანაწერი - მსგავსი ჩანაწერები
|
2023-03-29 08:07 |
|
Development of novel low-mass module concepts based on MALTA monolithic pixel sensors
/ Weick, J. (CERN ; Darmstadt, Tech. Hochsch.) ; Dachs, F. (CERN) ; Riedler, P. (CERN) ; Pinto, M. Vicente Barreto (Geneva U.) ; Zoubir, A.M. (Darmstadt, Tech. Hochsch.) ; de Acedo, L. Flores Sanz (CERN) ; Asensi Tortajada, I. (CERN) ; Dao, V. (CERN) ; Dobrijevic, D. (CERN ; Zagreb U.) ; Pernegger, H. (CERN) et al.
The MALTA CMOS monolithic silicon pixel sensors has been developed in the Tower 180 nm CMOS imaging process. [...]
arXiv:2303.05792.
-
5 p.
Fulltext
|
დეტალური ჩანაწერი - მსგავსი ჩანაწერები
|
2023-03-29 08:07 |
დეტალური ჩანაწერი - მსგავსი ჩანაწერები
|
2023-03-29 04:18 |
დეტალური ჩანაწერი - მსგავსი ჩანაწერები
|
2023-03-29 04:16 |
დეტალური ჩანაწერი - მსგავსი ჩანაწერები
|
|
|
|